日前，國科微宣布公司自主研發(fā)的NANDXtra®可靠性引擎推出第三代版本——NANDXtra® Gen3，極大地提升閃存顆粒的可靠性，并延長使用壽命3~5倍，標(biāo)志著國科微在固態(tài)硬盤控制器自主研發(fā)道路上取得了又一重大技術(shù)突破。與此同時，搭載NANDXtra® Gen3可靠性引擎的國科微GK2302V200系列控制器芯片即將上市，全面兼容128層TLC與QLC閃存顆粒，為用戶提供更為出色的數(shù)據(jù)訪問體驗(yàn)。

固態(tài)硬盤（Solid State Disk，SSD）從誕生到現(xiàn)在，歷經(jīng)SLC、MLC到TLC的閃存顆粒換代。如今隨著QLC顆粒的逐漸普及，數(shù)據(jù)存儲密度獲得再次提升，成本也隨之降低，QLC顆粒受到越來越多固態(tài)硬盤企業(yè)的青睞。不過，由于單位電荷密度增加，顆粒變得更加不穩(wěn)定，這就對控制器芯片企業(yè)提出了更高的要求。如何在顆粒持續(xù)更新?lián)Q代的前提下，兼顧讀寫性能與用戶數(shù)據(jù)的可靠性，成為擺在控制器芯片企業(yè)面前的一個重要課題。

作為國內(nèi)領(lǐng)先的自主控制器芯片及固態(tài)硬盤解決方案企業(yè)，國科微始終將用戶數(shù)據(jù)的可靠性擺在首位，獨(dú)創(chuàng)了NANDXtra®可靠性引擎。經(jīng)過7年時間的演進(jìn)，NANDXtra®可靠性引擎迭代至第三代，對用戶數(shù)據(jù)提供全方位的可靠性保障。

全新的NANDXtra®  Gen3可靠性引擎采用國科微專利技術(shù)，在數(shù)據(jù)通路上整合了二級磨損均衡策略、三級RAID引擎（Redundant Arrays of Independent Disks，磁盤陣列）以及4K LDPC（Low-density Parity-check，低密度奇偶校驗(yàn)）糾錯算法，在不影響性能的前提下，大大提升了數(shù)據(jù)可靠性。

二級磨損均衡策略采用國科微專利技術(shù)，對閃存顆粒塊進(jìn)行單獨(dú)管理，根據(jù)磨損（PE）狀況進(jìn)行動態(tài)塊權(quán)重排序，分為兩級調(diào)整，確保寫入數(shù)據(jù)的全局均衡，杜絕出現(xiàn)區(qū)域塊失效問題，從源頭延長閃存顆粒使用壽命；RAID引擎采用國科微專利技術(shù)三級RAID引擎，僅用占比不到5%的存儲空間，對閃存顆粒進(jìn)行Page、Die、CE級別的冗余保護(hù)，全面杜絕單點(diǎn)故障；LDPC引擎引入基于國科微全新動態(tài)調(diào)整專利技術(shù)的4K LDPC引擎，在糾錯能力達(dá)到業(yè)界一流水平的前提下，實(shí)現(xiàn)整個IP面積和功耗的全面領(lǐng)先。

長期的測試結(jié)果顯示，在NANDXtra® Gen3可靠性引擎的加持下，閃存顆粒平均使用壽命整體提升3到5倍，為采用QLC顆粒的SSD企業(yè)以及搭載使用QLC顆粒SSD的整機(jī)企業(yè)免去后顧之憂。

目前，搭載國科微NANDXtra® Gen3可靠性引擎的GK2302V200系列控制器芯片即將正式量產(chǎn)。同時，GK2302V200系列已完成與128層TLC和QLC 閃存顆粒的設(shè)計兼容，并且，GK2302V200工程樣品已通過有關(guān)權(quán)威測試機(jī)構(gòu)的測試驗(yàn)證，結(jié)果表明其可靠性、穩(wěn)定性、性能均可與國際同類產(chǎn)品相媲美。

國科微存儲將持續(xù)秉持“構(gòu)筑安全存儲芯基石”理念，以自主固態(tài)存儲芯片為根基，為客戶提供性能領(lǐng)先、安全可信賴的固態(tài)硬盤解決方案，從單一的自主控制器芯片提供商向固態(tài)硬盤解決方案提供商轉(zhuǎn)型，助推客戶邁入數(shù)字經(jīng)濟(jì)時代